科学技術フェア TOP  English__ オプトロニクス社

出展の見どころ

(株)システムズエンジニアリング
新卒採用
分光フェア No. 3F-54
〒112-0002
東京都文京区小石川1-4-12-801
URL:https://www.systems-eng.co.jp

● 担当
営業部 高田 敏寛
TEL:03-3868-2634 FAX:03-3868-2633

● 出展の見どころ
コロナ禍での注目度が上がっているUV殺菌ライトの効果と安全性を評価するGLoptic社の紫外分光器の実演デモ、工業用途で利用が拡大しているOCTの実機での計測、使い勝手の良い吸収シートのSB-IRを紹介する。

● 出展製品
DEMO
樹脂接合不良解析 断層画像解析システム 顕微SD-OCT

液体レンズと顕微鏡を組み合わせたコンパクトな設計で、サンプルのセッティングが簡単で、直ぐに画像データが出せるシステム。x4,x10,x40の対物レンズで最高分解能は大気中で4.5μm(物質中は約3.0μm)、樹脂溶着の接合部分を切断しないで内部の状態を観察できる。ヒートシールなどの立体的画像を観察する事で、接合不良、ボイド、異物解析などの効率を向上する。

コロナ関連 新製品 DEMO
DUV領域対応分光放射照度計 GL SPECTIS 5.0 Touch

1台で200~1050nmの広波長領域をカバーするポータブルタイプの分光放射照度計です。タッチスクリーン搭載・ワイヤレス操作で、場所を選ばず本体操作のみでデータ測定・表示・保存が可能です。
取得データは専用ソフトウェア(GL SPECTROSOFT)により詳しい解析が行え、光生物学的安全性(EN 62471/JIS C 7550)や植物工場における光源管理指標(PAR・PPFD)などにも対応しています。
オプションプローブを用いて、分光放射輝度・全放射束・光度といったデータも取得可能です。

DEMO
断層画像撮影システム OCT-SYS3

非接触、非破壊でサンプル断面画像を撮影。高解像度で2Dまたは3Dの断層撮影が可能。高速掃引レーザーにより、2D画像はリアルタイムで、3D画像は数秒で1ボリュームの撮影、測定物の形状,場所を選ばないプローブ方式。

新製品
LiDARターゲット用ポータブル反射率計キット

LiDAR校正に使用されるLabsphere社製大型反射ターゲット・パーマフレクトや、お手持ちのターゲットにおけるLiDAR使用波長(850 nm、905 nm、1550 nm)の反射率を現場で測定できるポータブル反射率計です。タッチパネル式、片手で操作可能なコンパクト設計で、屋外でのLiDAR試験におけるオンサイトキャリブレーションを手軽に行えます。
また大型反射板の反射率を複数点測定することにより、専用PCソフトウェアで均一評価が行える機能も標準で付属しています。

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