出展の見どころ
| （株）日本レーザー | レンズ設計・製造展 No. H-6 | |||
| 〒169-0051 | ||||
| 東京都新宿区西早稲田2-14-1 | ||||
| URL：http://www.japanlaser.jp/ | ||||
| ● 担当 | ||||
| システム機器部 | ||||
| TEL：03-5285-0862 | ||||
| ● 出展の見どころ | ||||
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米国ESDI社の干渉計システムおよび干渉縞解析ソフトウェアを実機展示し、その性能と特徴をご覧いただきます。また、現在ご使用中の干渉計システムへのソフトウェア接続について、ご相談に応じます。 | ||
| ● 出展製品 | ||||
 非球面干渉計Intellium Asphere 非球面干渉計Intellium Asphereは、数秒間で非球面の特性解析を可能にした、全く新しいコンセプトの非球面計測ツール。従来のフィゾー干渉計と同様に一般的な参照球面が使用でき、コンパクトなシステム構成を実現。 |
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フィゾー型干渉計Intellium H2000 干渉計Intellium H2000は、独自の同時位相シフト干渉方式を採用。振動の影響を受けず、10μ秒の速さで事象を捉える。大掛かりで面倒な除振対策をすることなく、生産現場や他の振動が発生しやすい環境での使用を可能にした。 |
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干渉縞解析ソフトウェアIntelliwave Intelliwaveはお使いの干渉計との接続が可能で、平面、球面、非球面の特性を解析できます。表面形状と波面の計測/解析の他、平坦度、不均一性、ラフネス、平行度、曲率、歪み等の計測にも対応。 |
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フィゾー干渉計Intellium Z100 Intellium Z100はφ4”までの光学、機械加工部品に対応した、小型且つお手頃な価格のフィゾー干渉計。干渉縞解析ソフトウェアIntelliwaveにUSBで接続可能なモデルも用意。 |
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| ● 出展カテゴリ | ||||
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- 光利用システム - 光測定器・光学測定器 - 分光器・干渉計 - 画像処理用ソフトウエア | ||
| ● ブース訪問予約／お問合せフォーム | ||||
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