interOpto -光とレーザーの科学技術フェア- TOP  English__ オプトロニクス社

出展の見どころ

(株)アイ・アール・システム

赤外線フェア No. A-02
〒206-0041
東京都多摩市愛宕4-6-20
URL:https://www.irsystem.com

● 担当
営業1部、営業2部 
TEL:042-400-0373 FAX:042-400-0374

● 出展の見どころ
赤外線関連機器の輸入販売および開発を行っており、世界の最先端技術をご紹介します。

主な出展製品は次の通りです。
・ハンディ近赤外分光器
・77K 極低温用バンドパスフィルタ
・UV照度計
・アクティブサーモグラフィー
・光学ズーム式冷却サーモグラフィ
・ハイパースペクトルイメージングシステム
・干渉距離調整可能Fizeau干渉計
・スクラッチ・ディグ自動検査装置
・レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ

● 出展製品
DEMO
ハンディ近赤外分光器

現場で、数秒で測定完了!ハンディ近赤外分光器
【波長範囲】
1450-2450nm(6896.5-4081.6cm-1)
1000-1600nm(10000-6250cm-1)

一部、樹脂/プラスチック、太陽光パネル、繊維の素材判別、家畜飼料の成分分析モードも販売しております。
製品詳細、デモ測定についてはお気軽にご相談ください。

新製品
77K 極低温用バンドパスフィルタ

77K~300K対応のバンドパスフィルタ
・指定温度用に光学設計
・温度変化に対し耐性が高い
・特注、1枚から製造可能

その他、短納期のストックフィルタ、赤外ウインドウ等、各種オプティクスを取り扱っております。

医療 DEMO
UV照度計

波長220~560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。
お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。
【概要】
 様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。

【主な用途】
 ・水銀ランプやUV-LEDの性能評価
 ・UV照射装置の点検

【測定対象】
 ・水銀ランプ
 ・UV-LED
 ・メタルハライドランプ
 ・キセノンランプ
 ・太陽光
  など

【特長】
 ・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様
 ・お手頃な価格
 ・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能


ハイパースペクトル イメージングシステム

屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。
分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。
ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。


干渉距離調整可能Fizeau干渉計AccuFiz-D

小型軽量AccuFizシリーズに、干渉距離が調整できるAccuFiz-Dが登場。
短コヒーレントレーザに与えた光路差と同じ光路差の位置関係にある2面のみの干渉縞を計測するため、真空槽や恒温槽の中で試験を行う光学系の干渉計での評価を、槽外に干渉系を置いたまま実施可能。
光路差機能付属の光源部が別筐体になることで、計測部本体の小型軽量性が保持され、様々な姿勢・環境での運用に応用・拡張可能。

DEMO
スクラッチ・ディグ自動検査装置

【概要】
 光技術を用いて物体表面のキズを検出し、
 スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。


【主な用途】
 ・量産品の出荷検査・成績書作成
 ・試作品の品質評価

【測定対象】
 ・光学部品
 ・半導体ウェハ
  など

【特長】
 ・非接触・非破壊
 ・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価
 ・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成
 ・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能


レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ

可視から遠赤外まで、各種レンズの偏芯評価と調芯ができるレーザ偏芯検査装置。各波長に適したレーザおよびカメラを搭載することで、表面反射および共焦点の両方での偏芯評価ができるため、他社の同様製品より高精度であり、また他社製品では不可能な平面を持つレンズも正確に評価できる。更にオプションで、3次元形状評価機能や、面間距離測定機能なども追加でき、このシリーズ1台ですべてのレンズ偏芯の評価と調芯が可能。


アクティブ・サーモグラフィ

非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。
<アプリケーション>
溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査
<特長>
安価でシームレスに提供可能なオプション
簡単操作の直感的なGUI
測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示
ライブ画像と振幅画像の合成
カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応


光学ズーム式冷却サーモグラフィ ImageIR® 6300 Z

複数のレンズを購入するコストや、交換する手間から解放する、フルレンジ放射温度較正仕様の画期的なズームレンズ付きモデル、ImageIR 6300Zがハイエンドサーモグラフィ ImageIRシリーズに登場しました。最先端のHOT検出器(XBn技術)を採用、小型・軽量・低消費電力で、ドローンや航空機への搭載にも適したコンパクトなデザインです。

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