出展の見どころ
(株)アイ・アール・システム | ||
赤外線フェア No. A-02 |
〒206-0041 | ||||||||||||||||
東京都多摩市愛宕4-6-20 | ||||||||||||||||
URL:https://www.irsystem.com | ||||||||||||||||
● 担当 | ||||||||||||||||
営業1部、営業2部 | ||||||||||||||||
TEL:042-400-0373 FAX:042-400-0374 | ||||||||||||||||
● 出展の見どころ | ||||||||||||||||
赤外線関連機器の輸入販売および開発を行っており、世界の最先端技術をご紹介します。
主な出展製品は次の通りです。 ・ハンディ近赤外分光器 ・77K 極低温用バンドパスフィルタ ・UV照度計 ・アクティブサーモグラフィー ・光学ズーム式冷却サーモグラフィ ・ハイパースペクトルイメージングシステム ・干渉距離調整可能Fizeau干渉計 ・スクラッチ・ディグ自動検査装置 ・レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ |
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● 出展製品 | ||||||||||||||||
DEMO ハンディ近赤外分光器 現場で、数秒で測定完了!ハンディ近赤外分光器 【波長範囲】 1450-2450nm(6896.5-4081.6cm-1) 1000-1600nm(10000-6250cm-1) 一部、樹脂/プラスチック、太陽光パネル、繊維の素材判別、家畜飼料の成分分析モードも販売しております。 製品詳細、デモ測定についてはお気軽にご相談ください。 |
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新製品 77K 極低温用バンドパスフィルタ 77K~300K対応のバンドパスフィルタ ・指定温度用に光学設計 ・温度変化に対し耐性が高い ・特注、1枚から製造可能 その他、短納期のストックフィルタ、赤外ウインドウ等、各種オプティクスを取り扱っております。 |
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医療 DEMO UV照度計 波長220~560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。 お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。 【概要】 様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。 【主な用途】 ・水銀ランプやUV-LEDの性能評価 ・UV照射装置の点検 【測定対象】 ・水銀ランプ ・UV-LED ・メタルハライドランプ ・キセノンランプ ・太陽光 など 【特長】 ・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様 ・お手頃な価格 ・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能 |
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ハイパースペクトル イメージングシステム 屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。 分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。 ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。 |
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干渉距離調整可能Fizeau干渉計AccuFiz-D 小型軽量AccuFizシリーズに、干渉距離が調整できるAccuFiz-Dが登場。 短コヒーレントレーザに与えた光路差と同じ光路差の位置関係にある2面のみの干渉縞を計測するため、真空槽や恒温槽の中で試験を行う光学系の干渉計での評価を、槽外に干渉系を置いたまま実施可能。 光路差機能付属の光源部が別筐体になることで、計測部本体の小型軽量性が保持され、様々な姿勢・環境での運用に応用・拡張可能。 |
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DEMO スクラッチ・ディグ自動検査装置 【概要】 光技術を用いて物体表面のキズを検出し、 スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。 【主な用途】 ・量産品の出荷検査・成績書作成 ・試作品の品質評価 【測定対象】 ・光学部品 ・半導体ウェハ など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価 ・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成 ・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能 |
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レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ 可視から遠赤外まで、各種レンズの偏芯評価と調芯ができるレーザ偏芯検査装置。各波長に適したレーザおよびカメラを搭載することで、表面反射および共焦点の両方での偏芯評価ができるため、他社の同様製品より高精度であり、また他社製品では不可能な平面を持つレンズも正確に評価できる。更にオプションで、3次元形状評価機能や、面間距離測定機能なども追加でき、このシリーズ1台ですべてのレンズ偏芯の評価と調芯が可能。 |
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アクティブ・サーモグラフィ 非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。 <アプリケーション> 溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査 <特長> 安価でシームレスに提供可能なオプション 簡単操作の直感的なGUI 測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示 ライブ画像と振幅画像の合成 カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応 |
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光学ズーム式冷却サーモグラフィ ImageIR® 6300 Z 複数のレンズを購入するコストや、交換する手間から解放する、フルレンジ放射温度較正仕様の画期的なズームレンズ付きモデル、ImageIR 6300Zがハイエンドサーモグラフィ ImageIRシリーズに登場しました。最先端のHOT検出器(XBn技術)を採用、小型・軽量・低消費電力で、ドローンや航空機への搭載にも適したコンパクトなデザインです。 |
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