出展の見どころ

オプトシリウス（株）
	光学薄膜フェア　No. E-36

〒115-0055

東京都北区赤羽西1-2-14　MYビル

URL：http://www.optosirius.co.jp

● 担当

計測器グループ

TEL：03-5963-6377　FAX：03-5963-6388

● 出展の見どころ

簡易版からご希望に合わせたカスタムが可能な光学式膜厚測定システムをご紹介します。
この他、IOI社高輝度LEDやオーシャンオプティクス社小型分光器、ラブスフェア社積分球、VisoSystems社ゴニオメーターなど光測定器関連などをご紹介致します。Weinert社マルチモード光ファイバ対応のスイッチ、NNCrystal社量子ドット、AQM社シリコン量子ドット・レジストなどの材料も扱っております。

● 出展製品

新製品 DEMO
光学式膜厚測定システム SKOP

SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。
基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します

新製品
IOI社高出力LED

IOI社は、UV-VIS-NIRの幅広い波長範囲において高出力なLEDを提供いたします。
医療分野における蛍光励起やリアルタイムPCRや、
産業分野における検査用のリモート照明など、様々な分野での利用可能です。

DEMO
LPMS レーザーパワー測定器

350~1100nm、900~1700nmおよび数Ｗ～数百Ｗのレーザー、半導体レーザーの全出力測定が可能な積分球システムです。積分球内は特殊構造により、ビーム偏極やビームアラインメントに影響されません。アプリケーションに応じて反射材、ディテクタをお選びいただけます。
ディテクタポートが２つあり、ディテクタやファイバ分光器を追加することができます。

● ブース訪問予約／お問合せフォーム

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