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出展社セミナー

2018年04月25日(水) 11:00-11:45 会場:展示会場内 特設会場A
【CE-1 コース】 中国の光産業動向

Overview and prospective on China’s optoelectronic industry.

Mr. Eric Yang Secretary General of CIOE
Being the most influential optoelectronic exhibition in China, CIOE had witness 20 years development of China’s optoelectronics. Along with closer cooperation between Japan and China’s optoelectronic companies, more and more Japanese professionals are getting interested in China’s market now. To introduce more of China’s optoelectronic market, about its development state, opportunities and most likely trends, Eric Yang, secretary general of CIOE, will share his observation, opinions and analysis at OPIE 2018.

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2018年04月25日(水) 13:00-13:30 会場:展示会場内 特設会場A
【OSA-1 コース】 フォトニクスマーケット動向(OSA)

Optics Market Overview & Future Opportunities

Beth Harrington Senior Director, Industry Relations, The Optical Society (OSA)
Beth will present OIDA’s (OSA Industry Development Associates) most recent macro market data by industry market sector, region and technology area; along with a glimpse of some of the new optics-enabled technologies that may be developed 50 years into the future.

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2018年04月25日(水) 11:00-11:50 会場:アネックスホール F206
【EX-1 コース】 ハイパースペクトル、マルチスペクトルカメラの最新の動向と新製品ご紹介

ケイエルブイ(株)
紫外から近赤外の波長範囲に対応したハイパースペクトルカメラ、マルチスペクトルカメラ、小型タイプなど、各機器の特長を分かりやすくご説明いたします。また、最新の動向と新製品情報もご紹介いたします。

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2018年04月25日(水) 12:45-13:35 会場:アネックスホール F206
【EX-2 コース】 中国製産業用レーザーの注目アイテムはこれだ!!

中国製レーザによる微細加工からマーキング、溶接まで  アプリケーション例・製品のご紹介

カンタムエレクトロニクス(株) 中田 貴男、白井 豪 /Mr. William Wang Raycus社 /Dr. Z Liu Huaray社

 今や中国製のファイバーレーザや固体レーザは市場で着実に実績を積み上げてきています。
特に信頼性の面でも産業用途十分耐えうるレベルで、コストパフォーマンスについても非常にお客様から満足頂いている製品やメーカが出てきています。
 市場実績のある中国メーカー、その代表製品、実際のアプリケーションへの展開例をご紹介致します。
 現在の中国製レーザの実力を知りたい方、コストパフォーマンスの良いレーザを検討されている方のご聴講をお勧め致します。

 ・レイカス社ファイバレーザの説明とアプリケーション例
 ・Huaray社固体レーザの説明とアプリケーション例

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2018年04月25日(水) 13:50-14:40 会場:アネックスホール F206
【EX-3 コース】 世界最高水準産業用カメラの最新機能と様々な撮像手法

~システム性能はデバイス選定と撮像制御で決まる~

キヤノンITソリューションズ(株) 稲山 一幸 / Baumer Optronic GmbH 立脇 竜

 画像処理システムの性能改善に必要な技術トレンドを紹介します。製品の選び方をはじめ、これから画像処理検査やシステム構築を始められる方にも理解しやすい基礎的な内容から、応用技術を織り交ぜてお話いたします。より安定した画像処理システム環境を目指す方にとって、課題解決のヒントとなるお役立ち情報を提供いたします。

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2018年04月25日(水) 14:55-15:45 会場:アネックスホール F206
【EX-4 コース】 超小型 MEMS型 近赤外分光センサモジュールと 最新のアプリケーション

従来型 NIR分光器のイメージを覆す超小型・軽量化を実現!Spectral Engines社NIRONEご紹介

ケイエルブイ(株)

 Spectarl Engines社の超小型赤外分光センサモジュールNIRONEは、携帯機器や、食品、農業、製薬、その他の市場の生産ラインの組み込み用として、また、需要が伸びているIoT製品への組み込みにも適しております。本セミナーでは、最新の製品ラインナップとアプリケーションをご紹介いたします。

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2018年04月26日(木) 11:00-11:50 会場:アネックスホール F206
【EX-5 コース】 レーザーアシスト切削『OPTIMUS T+1』の特徴と加工事例

 

イネイブル(株) 中村 寿

 米国Micro-LAM社が開発したレーザーアシスト切削システムOPTIMUST+1により、ダイヤモンド切削が困難であった脆性材料加工の生産効率を向上できた。また、ダイヤモンド切削加工不可能であったガラスプレス金型用超硬合金の加工においても、本技術が有効であることが実証されたので、その加工事例を紹介する。

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2018年04月26日(木) 12:45-13:35 会場:アネックスホール F206
【EX-6 コース】 LUXMUX社製 近赤外波長可変SLD光源(BeST-SLED®)と応用分野

 

ケイエルブイ(株)

 近赤外線の波長帯域を幅広くカバーしているLUXMAX社製スーパールミネッセントダイオード光源(SLD光源)の仕様や他社製品との比較、また分野ごとの最新の応用例をご紹介いたします。

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2018年04月27日(金) 11:00-11:50 会場:アネックスホール F206
【EX-7 コース】 オリジナル開発UV-LED照射器が切り開く高付加価値応用の世界

UV-LED照射器のアプリケーションと高付加価値応用例

カンタムエレクトロニクス(株) 大川 隆史

 近年、UV-LEDは長寿命、高出力化が目覚しい発達を遂げてきている。それに伴い、露光や高速印刷などの高付加価値製品への応用が加速している。また、水俣条約により、2020年から水銀規制が実施されるためより一層、ランプからUV-LEDへの置き換えが増加している。それらに使用される弊社のオリジナルUV-LED照射器の開発状況と紹介を行う。

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2018年04月27日(金) 12:45-13:35 会場:アネックスホール F206
【EX-8 コース】 What’s New from QED

Andrew Kulawiec, Ph.D. QED Technologies International, Inc.

 自由曲面の形状計測/加工、MSF低減、高NA光学素子の加工などの課題に対するQEDの取り組みとして、SSI/MRFの現在と未来ついて講演いたします。
スライドは日本語対訳付きです。

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2018年04月27日(金) 13:50-14:40 会場:アネックスホール F206
【EX-9 コース】 超高精度三次元測定機【UA3P】のご紹介

車載光学部品の測定技術

パナソニックプロダクションエンジニアリング(株) <パナソニックFSエンジニアリング(株)>
 超高精度三次元測定機『UA3P』が可能にする「自由曲面レンズ」や「側面基準の光軸偏心」など車載光学部品に求められる測定技術を紹介します。
 合わせてUA3Pシリーズの高精度化・使い勝手向上の取組も紹介します。
※掲載情報は、予定です。タイトル、内容などは多少変更になる場合もあります。

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2018年04月27日(金) 14:55-15:45 会場:アネックスホール F206
【EX-10 コース】 AMETEK Taylor HobsonとZygoの提供する最新の光学メトロロジー

◆TH: LUPHOScan他のご紹介◆ ZYGO: ZYGOが提供する最新の測定技術について

アメテック(株) 田中 真一、粕谷 卓志

 2014年よりアメテック(株)傘下となったザイゴと、テーラーホブソンが共同で光学産業向けの最新の測定ソリューションをご紹介します。LUPHOScanによるフレネルや外径偏芯測定等、また新しくリリースされた新型Newview及び非球面レンズ測定器COMPASSについてご紹介します。

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2018年04月27日(金) 16:00-16:50 会場:アネックスホール F206
【EX-11 コース】 新干渉計!スペクトル制御干渉計が可能にする新たな平面・球面測定

An Introduction to Spectrally Controlled Interferometry for the Measurement of Flat and Spherical Optics

Donald (Don) A. Pearson II Äpre Instruments <(株)清原光学>

 従来の干渉計は、ナノメートルレベルの精度で球面および平面を測定するために広く使用されていますが、サンプルの裏面または複数の面反射にしばしば悩まされることになります。
 このプレゼンテーションでは、干渉計光源のスペクトル特性を制御(スペクトル制御干渉法:SCI)することによって測定面を分離する新しい方法について説明します。
 干渉計の光源のスペクトル変調を利用し、光路差がゼロでない場合の局在フリンジを形成することが可能になります。
 結果として、フィゾー型またトワイマングリーン型レーザ干渉計において、白色光のようなフリンジを形成することが可能になりました。
 ÄPREのSCI技術は機械的な位相シフタを必要とせず、よりシンプルな装置となり、お手持ちの既存の干渉計をアップグレードすることができます。
 さらに、SCIはレンズの曲率半径を含む絶対距離の測定を1回のセットアップで可能にし、さらにスループットを改善、そして不正確な測定をなくす可能性を持っています。

Conventional interferometry is widely used to measure spherical and flat surfaces with nanometer level precision but it is often plagued by back or multiple surface reflections.
At this meeting I will describe a new method of isolating the measurement surface by controlling the spectral properties of the source (Spectrally Controlled Interferometry - SCI).
Using spectral modulation of the interferometer's source enables formation of localized fringes where the optical path difference is non-zero.
As a consequence, it becomes possible to form white-light like fringes in laser based, common path Fizeaus or Twyman-Green interferometers.
ÄPRE’s SCI technology does not require mechanical phase shifting, resulting in simpler instruments and offers the ability to upgrade existing interferometers.
Furthermore, SCI allows absolute measurement of distance, including radius of curvature of lenses, in a single setup with the possibility of improving the throughput and removing some of the pitfalls of inaccurate measurements.
スライドは日本語対訳付きです。

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