Being the most influential optoelectronic exhibition in China, CIOE had witness 20 years development of China’s optoelectronics. Along with closer cooperation between Japan and China’s optoelectronic companies, more and more Japanese professionals are getting interested in China’s market now. To introduce more of China’s optoelectronic market, about its development state, opportunities and most likely trends, Eric Yang, secretary general of CIOE, will share his observation, opinions and analysis at OPIE 2018.

Beth will present OIDA’s (OSA Industry Development Associates) most recent macro market data by industry market sector, region and technology area; along with a glimpse of some of the new optics-enabled technologies that may be developed 50 years into the future.

紫外から近赤外の波長範囲に対応したハイパースペクトルカメラ、マルチスペクトルカメラ、小型タイプなど、各機器の特長を分かりやすくご説明いたします。また、最新の動向と新製品情報もご紹介いたします。

　今や中国製のファイバーレーザや固体レーザは市場で着実に実績を積み上げてきています。
特に信頼性の面でも産業用途十分耐えうるレベルで、コストパフォーマンスについても非常にお客様から満足頂いている製品やメーカが出てきています。
　市場実績のある中国メーカー、その代表製品、実際のアプリケーションへの展開例をご紹介致します。
　現在の中国製レーザの実力を知りたい方、コストパフォーマンスの良いレーザを検討されている方のご聴講をお勧め致します。

 ・レイカス社ファイバレーザの説明とアプリケーション例
 ・Huaray社固体レーザの説明とアプリケーション例

　画像処理システムの性能改善に必要な技術トレンドを紹介します。製品の選び方をはじめ、これから画像処理検査やシステム構築を始められる方にも理解しやすい基礎的な内容から、応用技術を織り交ぜてお話いたします。より安定した画像処理システム環境を目指す方にとって、課題解決のヒントとなるお役立ち情報を提供いたします。

　Spectarl Engines社の超小型赤外分光センサモジュールNIRONEは、携帯機器や、食品、農業、製薬、その他の市場の生産ラインの組み込み用として、また、需要が伸びているIoT製品への組み込みにも適しております。本セミナーでは、最新の製品ラインナップとアプリケーションをご紹介いたします。

　米国Micro-LAM社が開発したレーザーアシスト切削システムOPTIMUS_T+1により、ダイヤモンド切削が困難であった脆性材料加工の生産効率を向上できた。また、ダイヤモンド切削加工不可能であったガラスプレス金型用超硬合金の加工においても、本技術が有効であることが実証されたので、その加工事例を紹介する。

　近赤外線の波長帯域を幅広くカバーしているLUXMAX社製スーパールミネッセントダイオード光源（SLD光源）の仕様や他社製品との比較、また分野ごとの最新の応用例をご紹介いたします。

　近年、UV-LEDは長寿命、高出力化が目覚しい発達を遂げてきている。それに伴い、露光や高速印刷などの高付加価値製品への応用が加速している。また、水俣条約により、2020年から水銀規制が実施されるためより一層、ランプからUV-LEDへの置き換えが増加している。それらに使用される弊社のオリジナルUV-LED照射器の開発状況と紹介を行う。

　自由曲面の形状計測/加工、MSF低減、高NA光学素子の加工などの課題に対するQEDの取り組みとして、SSI/MRFの現在と未来ついて講演いたします。

　超高精度三次元測定機『UA3P』が可能にする「自由曲面レンズ」や「側面基準の光軸偏心」など車載光学部品に求められる測定技術を紹介します。
　合わせてUA3Pシリーズの高精度化・使い勝手向上の取組も紹介します。

　2014年よりアメテック(株)傘下となったザイゴと、テーラーホブソンが共同で光学産業向けの最新の測定ソリューションをご紹介します。LUPHOScanによるフレネルや外径偏芯測定等、また新しくリリースされた新型Newview及び非球面レンズ測定器COMPASSについてご紹介します。

　従来の干渉計は、ナノメートルレベルの精度で球面および平面を測定するために広く使用されていますが、サンプルの裏面または複数の面反射にしばしば悩まされることになります。
　このプレゼンテーションでは、干渉計光源のスペクトル特性を制御（スペクトル制御干渉法：SCI）することによって測定面を分離する新しい方法について説明します。
　干渉計の光源のスペクトル変調を利用し、光路差がゼロでない場合の局在フリンジを形成することが可能になります。
　結果として、フィゾー型またトワイマングリーン型レーザ干渉計において、白色光のようなフリンジを形成することが可能になりました。
　ÄPREのSCI技術は機械的な位相シフタを必要とせず、よりシンプルな装置となり、お手持ちの既存の干渉計をアップグレードすることができます。
　さらに、SCIはレンズの曲率半径を含む絶対距離の測定を1回のセットアップで可能にし、さらにスループットを改善、そして不正確な測定をなくす可能性を持っています。

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Conventional interferometry is widely used to measure spherical and flat surfaces with nanometer level precision but it is often plagued by back or multiple surface reflections.
At this meeting I will describe a new method of isolating the measurement surface by controlling the spectral properties of the source (Spectrally Controlled Interferometry - SCI).
Using spectral modulation of the interferometer's source enables formation of localized fringes where the optical path difference is non-zero.
As a consequence, it becomes possible to form white-light like fringes in laser based, common path Fizeaus or Twyman-Green interferometers.
ÄPRE’s SCI technology does not require mechanical phase shifting, resulting in simpler instruments and offers the ability to upgrade existing interferometers.
Furthermore, SCI allows absolute measurement of distance, including radius of curvature of lenses, in a single setup with the possibility of improving the throughput and removing some of the pitfalls of inaccurate measurements.